國產(chǎn)掃描電鏡測(cè)試
國產(chǎn)掃描電鏡測(cè)試主要利用掃描電子顯微鏡(SEM)進(jìn)行樣品的形貌觀察,并利用能量色散X射線譜儀(EDS)進(jìn)行成分分析。
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2024-06-20 - 02
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